TPS7H2211-SEP
- Total ionizing dose (TID) characterized to 100 krad(Si)
- Radiation hardness assurance availability of 100 krad(Si)
- Single-event effects (SEE) characterized
- Single-event latchup (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 75 MeV-cm2/mg*
- Single-event functional interrupt (SEFI) and single-event transient (SET) characterized to LET = 75 MeV-cm2/mg*
- Integrated single channel eFuse
- Input voltage range: 4.5 V to 14 V
- Low on-resistance (RON) of 60-mΩ maximum at 25°C and VIN = 12 V
- 3.5-A maximum continuous switch current
- Low control input threshold aids in use of 1.2-V, 1.8-V, 2.5-V, and 3.3-V logic
- Configurable rise time (soft start)
- Reverse current protection (RCP)
- Overvoltage protection (OVP)
- Internal current limit (fast-trip)
- Thermal shutdown
- Ceramic and plastic package with thermal pad
- Available in military (–55°C to 125°C) temperature range
The TPS7H2211 is a single channel eFuse (integrated FET load switch with additional features) that provides reverse current protection, overvoltage protection, and a configurable rise time to minimize inrush current, soft start. The device contains P-channel MOSFETs that operate over an input voltage range of 4.5 V to 14 V and supports a maximum continuous current of 3.5 A.
The switch is controlled by an on and off input (EN), which is capable of interfacing directly with low-voltage control signals. Overvoltage protection and soft start are programmable with few external components through the OVP and SS pins. The TPS7H2211 is available in a ceramic and plastic package with an exposed thermal pad allowing for improved thermal performance. A standard microcircuit drawing (SMD) is available for the QML 5962R1822001VXC. A vendor item drawing (VID) is available for the -SEP variant, V62/23609.
기술 자료
유형 | 제목 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | TPS7H2211-SP and TPS7H2211-SEP Radiation-Hardness-Assured (RHA) 14-V, 3.5-A eFuse datasheet (Rev. E) | PDF | HTML | 2023/12/14 |
* | Radiation & reliability report | TPS7H2211-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2023/09/29 |
* | Radiation & reliability report | TPS7H2211-SEP Total Ionizing Dose (TID) Report (Rev. B) | PDF | HTML | 2023/09/28 |
* | Radiation & reliability report | TPS7H2211-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report | PDF | HTML | 2023/08/28 |
* | Radiation & reliability report | Single Event Effects Report of the TPS7H2211-SEP eFuse | PDF | HTML | 2023/06/07 |
EVM User's guide | TPS7H2211EVM Evaluation Module User's Guide | PDF | HTML | 2023/07/11 | |
Certificate | TPS7H2211EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2023/06/21 | ||
Application note | Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) | PDF | HTML | 2022/09/15 | |
Selection guide | TI Space Products (Rev. I) | 2022/03/03 | ||
E-book | Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) | 2019/05/21 |
설계 및 개발
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HTSSOP (DAP) | 32 | 옵션 보기 |
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